Le service de Microscopie électronique de l’INSP offre aux chercheurs et aux étudiants (doctorants, post-doctorants, stagiaires…), 2 types de prestations :
L’observation d’échantillons par Microscopie Electronique à Balayage sur un MEB SUPRA 40 ZEISS (voir caractéristiques de l’appareillage ci-dessous) installé dans la salle blanche de l’INSP.
L’étude et la caractérisation d’échantillons par Microscopie Electronique en Transmission sur un microscope Jeol FEG 2100 F appartenant à l’IMPMC (voir caractéristiques de l’appareillage sur le site de l’IMPMC).
Contact
Dominique Demaille
dominique.demaille insp.upmc.fr - Tél. : 01 44 27 52 12
Barre 22-32, 4e étage, pièce 411