Institut des
NanoSciences de Paris
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Diffusomètre

Responsable : Serge Berthier

Permet l’enregistrement de cartes de diffusion (BRDF) ou d’émission (BEDF). Dans le cas de surfaces non-émissives, la lumière est envoyée sur l’objet à travers une optique de Fourrier au moyen d’un cube séparateur. Selon le point d’entrée de la lumière dans le plan de Fourier, on peut alors modifier l’angle d’incidence de la lumière sur l’objet. L’appareil utilisé est EZContrast XL88 développé par la société ELDIM. Il est capable de mesurer jusqu’à + ou - 88° d’incidence. Les mesures sont effectuées à l’aide d’une caméra CCD haute résolution refroidie par effet Peltier à -25°C. Le système permet d’intégrer sur le trajet lumineux des polariseurs ou des filtres permettant une étude spectrale en lumière polarisée.